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"Scanning electron microscope" -wikipedia - Google 検索
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顕微鏡
けんびきょう
で
見
み
た「
作物
さくもつ
」の
知
し
られざる
姿
すがた
、
写真
しゃしん
11
点
てん
ナショナル ジオグラフィック
日本
にっぽん
版
ばん
現代
げんだい
の
農業
のうぎょう
は
環境
かんきょう
に
大
おお
きな
負担
ふたん
をかけています。
人間
にんげん
が
依存
いぞん
する
食用
しょくよう
の
作物
さくもつ
と
気候
きこう
変動
へんどう
の
魅力
みりょく
的
てき
な
関係
かんけい
を
知
し
ってほしいと
願
ねが
う
写真
しゃしん
家
か
が、“
思考
しこう
の
糧
かて
”として
電子
でんし
顕微鏡
けんびきょう
写真
しゃしん
を...
30か
月
げつ
前
まえ
Cross-sectional observation of a weak boundary layer in polytetrafluoroethylene (PTFE) using scanning electron ...
Nature
A weak boundary layer (WBL), at the surface of polymers, causes poor adhesion, but such a WBL has not been characterized or quantified.
31か
月
げつ
前
まえ
JEOL tabletop scanning electron microscopes for quality control in Additive Manufacturing
Metal Additive Manufacturing magazine
As the Additive Manufacturing industry grows, so does the demand for high-throughput scanning electron microscope (SEM) imaging and analysis...
27か
月
げつ
前
まえ
EVO LS Scanning Electron Microscope : Get Quote, RFQ, Price or Buy
News-Medical
ZEISS EVO series combines high definition Scanning Electron Microscopy with high throughput automated workflow. Experience excellence in extended pressure...
80か
月
げつ
前
まえ
Complementary cathodoluminescence lifetime imaging configurations in a scanning electron microscope
ScienceDirect.com
We obtained a pulse width of less than 30 ps at 5 keV and 165 ps at 30 keV in the electrostatic ultra-fast beam blanker configuration.
65か
月
げつ
前
まえ
Figure 7: Scanning Electron Microscope Results of Iron Chloride based...
ResearchGate
Download scientific diagram | Scanning Electron Microscope Results of Iron Chloride based AC A rigid solid material was observed during the SEM...
41か
月
げつ
前
まえ
Hitachi TM3030: Tabletop Scanning Electron Microscope with Improved Electron-optical System
Wiley Analytical Science
I consent to Wiley's Terms of Use and processing of my personal data as disclosed in Wiley Privacy Policy. I consent to special offers,...
130か
月
げつ
前
まえ
Scanning electron microscope i [IMAGE]
EurekAlert!
Caption. Scanning electron microscope images of an uncoated soot particle (left) revealing the aggregate structure made up of many tiny spheres, and four...
13か
月
げつ
前
まえ
News Releases : May 31, 2022
Hitachi Global
Information contained in this news release is current as of the date of the press announcement, but may be subject to change without prior...
22か
月
げつ
前
まえ
New Scanning Electron Microscope with 'Simple SEM' Automation, 3D Analysis
Lab Manager Magazine
The IT510 is the successor to the popular JEOL IT500 InTouchScope SEM, with its large sample chamber and tungsten or LaB6 filament.
26か
月
げつ
前
まえ