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電容災難 - 维基百科,自由的百科全书

でんよう災難さいなん

でんようばく漿ゆび電子でんし產品さんぴんいんでん容器ようき使用しよう壽命じゅみょうひさげ結束けっそく造成ぞうせいてきそん現象げんしょう發生はっせいざいおもいた顯示けんじ日光にっこうとう穩定個人こじん電腦でんのうてき電源でんげん供應きょうおううえでんよう災難さいなん(Capacitor plague)也指1999ねんいたり2007ねん间的かた铝电かい电容故障こしょうりつちょう预期[1][2]

ざいおもいたうえばく漿的Chhsi電解でんかいでんよう

20せい纪90年代ねんだい,以红宝せき(Rubycon)为首てき日本にっぽん厂商开始けん发一种新がたてい內阻てきみずもと电解电容。这种电容以70%てきみずはまたかし,其具有ぐゆう价格低廉ていれん性能せいのう优良とうとくてんゆう其具备低ESRあずかこうたい压的特色とくしょくしか而,みずもと电解えき具有ぐゆうくさ蚀性,导致电容无法长期稳定工作こうさく,这是すいもと电容けん发早てき重大じゅうだいわざ障碍しょうがい。经过多年たねんてきわざ术攻关,日本にっぽん学者がくしゃ鹈沢しげる(Shigeru Uzawa)领导てき研究けんきゅう团队终于ざい90年代ねんだいまつ成功せいこうけん发出一种混合型抑制剂,かい决了铝电よう氢化てき难题。ずいきさき于1998ねん,红宝せき公司こうし推出りょうZLZA两个系列けいれつてきしん产品,其含水量すいりょう为40%,工作こうさく温度おんど范围达 −40-105°C,这是すいもと电解电容くびいたなま产运ようずいきさきてき电解えきちゅうみずてき比重ひじゅうひさげますいた70%。其他せいづくりしょう,如NCC、NichiconあずかElna也很かい推出りょう自家じかてきどう类产ひん

ざい此期间,一名研究员离开红宝石,转为另一中国ちゅうごく公司こうし工作こうさく,并复せいりょうZAZL系列けいれつ电解えき。而后,中国ちゅうごく公司こうしゆう几名员工携带はいかた离开,并将其出售给许多台湾たいわんてき电解电容厂商,[3][4]且售价比日本にっぽん公司こうしさら低廉ていれんしか而,这几めい管理人かんりにん员手ちゅうてきはいかた并不かんせいかけしつりょう对电よう长期稳定工作こうさくいたり重要じゅうようてき化学かがく成分せいぶん,导致电解えき灌入铝电ようきさきさい稳定,かいあずか铝发生化学せいかがくはん应,产生氢气。[5][6][7][8]这些电解电容ずいきさき以「てい阻抗」、「ていESR」、「こう纹波电流」[需要じゅようかい]、「たい压100V」だい规模进入しょう费电场。

此问题發現はつげん於1999ねんただしざい2000ねんちゅう此種でん容器ようき常用じょうよう于制づくりただしちょくいた2007ねんとう世界せかい各地かくちてき多數たすうだいこう製造せいぞうしょうやめ得知とくち此消いき通常つうじょうざい使用しよう產品さんぴんいちねん後會こうかい出現しゅつげん問題もんだいしん修正しゅうせいかけしつ时,仍有瑕疵かしでんよう投入とうにゅう使用しよう[9]よし瑕疵かしでんよう錯誤さくごてき電解でんかいえき成分せいぶんかいさんせい氫氣,しん而導致電容器ようき膨脹ぼうちょう變形へんけい最終さいしゅうかい使電解でんかいえき泄漏,还有少数しょうすうあんれいちゅう瑕疵かしでんよう导致ばく炸。

影響えいきょう方式ほうしき

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最早もはや發現はつげんてきあるじばんじょうてき瑕疵かしでんようおいさかのぼいたりSocket 7おもいた,且影響えいきょう時間じかんしょ最近さいきん[なに时?]製造せいぞう出來できてきあるじいたおもいたしょうしょう製造せいぞう瑕疵かしでんよういたてきでんよう於其製造せいぞうしょう,這也たんたんただ出現しゅつげんざいPCれいくみけんじょうだい一代いちだいてきiMac G5[10]あずかeMac[11]也受影響えいきょう

 
でん容器ようき損壞そんかいてき電源でんげん供應きょうおう

とうでんよう災難さいなんだい範圍はんい影響えいきょう桌上がた電腦でんのうかたたい,此狀きょうなみぼつただげん於該領域りょういきざいそうあみ交換こうかん音響おんきょうはいけんDVD播放とう也都發現はつげん瑕疵かしでんよう。甚至ゆう些汽しゃてきECU發現はつげん使用しよう這些でんよう電腦でんのうれいけんさいつね發現はつげん這些でんようてき蹤跡。

這些使用しようりょう瑕疵かしでんようてきぐみけんかえ使很多じんはついか特別とくべつぞうぬしばん主要しゅよう配置はいちてきだか品質ひんしつでんよう中有ちゅうう一兩顆瑕疵電容,しるべ致指ひかえ份主いたしょうしょう此舉ためゆう計畫けいかくてきそん」。ゆうれい這些瑕疵かしでんよう通常つうじょうかいざい半年はんとし內損毀)かえ製造せいぞう出來でき,且還製造せいぞうしょうせんようしん

ざい2005ねん5がつゆう些跡ぞう顯示けんじざいiMac、えいとくなんじ、戴爾ぬしいた內有瑕疵かしてきあまよしやすしえいNichiconでんようよし於其問題もんだいはまたかしりょう電解でんかいえきてきでんよう)而導致,而並いんため錯誤さくごてき電解でんかいえき成分せいぶんしょ造成ぞうせいしか而,正常せいじょうてきでんようざい系統けいとうてき作用さよう效果こうかあずか自身じしんてき物理ぶつり性質せいしつあずか瑕疵かしでんよういちようてきかえようべん出來でき,而且よう修復しゅうふく它。(ただゆうNichicon HMあずかHN系列けいれつでんよう影響えいきょう

ちょうじょう

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無論むろん細微さいびてきいただきはし膨脹ぼうちょう意味いみちょ該電よう失效しっこう

けんけんでんようさい常用じょうようてき方法ほうほう就是よう觀察かんさつ瑕疵かしでんようかい表現ひょうげん以下いかいくしゅしるしちょう

  • でんよういただきはしとつおこり。(ただかいざいいただきはしゆうT、Y十字じゅうじ壓力あつりょくせん表現ひょうげん。而壓りょくせんてき設計せっけいためりょう使ばく炸的壓力あつりょくてんためとつおこりきれひらく
  • 戴爾Optiplex GX270s系列けいれつ個人こじん電腦でんのうざいじゅうけい經常けいじょう出現しゅつげん"Thermal Event"訊息。
  • そこはしとち胶塞突出とっしゅついん而导致电ようそこ弯曲。
  • でんよう內的電解でんかいえき(棕色黏性物質ぶっしつ漏出ろうしゅついたしゅばんじょう
  • でんよういただきはし變形へんけいいた棕色物質ぶっしつある變形へんけいはしゆういたてきほら
 
ゆう瑕疵かしてき Choyo でんよう內的電解でんかいえき漏出ろうしゅつぬしばんじょう

とうでんよう使用しよう時間じかんへんひさでん容量ようりょうかい逐漸くだてい而ESR(とうこうくしれんでんかい逐漸增加ぞうか。這種じょうがた發生はっせいでんよう就無ほう充分じゅうぶんてき提供ていきょう內部てき直流ちょくりゅうでんいたりぬしいた造成ぞうせい系統けいとう不穩ふおん。而系統けいとう共同きょうどうてきしるしちょう如下:

  • ゆう时候无法开机,必须按“じゅう启”按钮あるものおもしん启动
  • 不穩ふおんてき系統けいとう經常けいじょう當機とうきBSODうちかく错误(kernel panics)とう),特別とくべつ該徵兆發生頻率隨時間增長。
  • CPU核心かくしん電壓でんあつある其他系統けいとう電壓でんあつ嚴重げんじゅう波動はどうあるちょう範圍はんい可能かのう連帶れんたいひさげますCPU溫度おんど
  • 記憶きおくたい錯誤さくご,而發生はっせいしきりつ隨時ずいじあいだ增長ぞうちょう
  • 人為じんい自動じどうじゅうけい
  • ざいあるじいた內建顯示けんじ顯示けんじしき出現しゅつげん不穩ふおん畫面がめん
  • 無法むほう完成かんせいでんけんあるごう完成かんせいそくじゅうけい
  • 無法むほう開始かいしでんけんふうおうぎてんどうただし系統けいとう當機とうき
 
瑕疵かしてき Tayeh でんようざいいただきはしてき鋁殼ゆう變形へんけい現象げんしょう

ぞう物理ぶつり特徵とくちょうあらわ而易てき,很多系統けいとう狀態じょうたい可能かのうかいよし於其いんもと造成ぞうせいぞう使用しよう壞的電源でんげん供應きょうおう灰塵かいじんさまたげ礙風おうぎうんさく損壞そんかいてき記憶きおくたいとう其他かたたい問題もんだい通常つうじょう不穩ふおんじょうてき狀況じょうきょうとう作業さぎょう系統けいとううん作中さくちゅう可能かのうぐういたてき軟體問題もんだい(ぞう份的惡意あくい軟體、かす糕的驅動くどうほどしきある軟體),而且起因きいん於硬たい問題もんだい。如果這些ちょうじょう發生はっせいはたおもからひらきけいけん查電よう特別とくべつ注意ちゅういCPU周圍しゅういてきでんようだてそくけん查電よう狀態じょうたい。如果ぼつゆう物理ぶつり現象げんしょうしめせなみのう夠檢けんでんようてき電壓でんあつ,如果出現しゅつげん極端きょくたんてき電壓でんあつおり表示ひょうじちょ這顆でんようなみぼつゆう正常せいじょううんさく

さんせい瑕疵かしでんようてき原因げんいん

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ざい份案れい製造せいぞう瑕疵かしでんよう根本こんぽんてき原因げんいん產業さんぎょう間諜かんちょうてき情報じょうほう錯誤さくご台灣たいわん電解でんかいえきしょう竊取せっしゅ完成かんせいてき電解でんかいえき成分せいぶん,而且缺乏けつぼう製造せいぞう穩定でんようしょ需成ぶん[12]腐蝕ふしょくせい成分せいぶんよし工業こうぎょう竞争なみ公開こうかい

とう瑕疵かしでんよう充電じゅうでんてき時候じこうみずもとてき電解でんかいえきしょうかいへん穩定,しん而產せい氫氣よし於這些電ようようからはた它封そん,這些壓力あつりょく使とくでんよういただきはし開始かいし變形へんけいあるふう接頭せっとうてきとちにかわ擠下らいちょくいたとう壓力あつりょく超過ちょうか金屬きんぞくからてき伸展しんてんせい以後いごしょうかいしたがえとちにかわそこばく出來できあるしたがえでんよういただきはしばく出來できとういち電解でんかいでん容器ようき爆裂ばくれつてき時候じこうかい出現しゅつげんばく炸聲與一よいち嘶嘶ごえ雜音ざつおん,甚至しょうばく炸。這個現象げんしょう通常つうじょうかい使內部へんどくざつみだれ,而為りょう避免酸性さんせいてき電解でんかいえきしん一步的侵蝕主機板,一定要清除乾淨。

でんようけんけん

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失效しっこうてきでん容器ようき一般都會造成像上述系統不穩定的狀況,ゆう時候じこう失效しっこうてきでん容器ようきはたざいあるじばんじょうしるべ電壓でんあつ調節ちょうせつ失效しっこう主要しゅようゆう二個理論可以解釋為何發生此狀況。

だい一種較易懂的情況是這類失效的電容會有非常高的漏電ろうでんりゅうこうまけてき電壓でんあつ調節ちょうせつかい造成ぞうせい過熱かねつ失效しっこうだい二種情況是當電容值減少且ESR值增加ぞうか電壓でんあつ調整ちょうせい內的降壓こうあつ調節ちょうせつためりょう補償ほしょうまけ增加ぞうか交換こうかんしきりつよしため MOSFET ざい交換こうかん過渡かと期間きかんかいさんせい熱量ねつりょうしきりつ增加ぞうか而導致過ねつ失效しっこう

 
したがえ電腦でんのう電源でんげん供應きょうおう取出とりでてきでんよう發現はつげんはかためしすう值是異常いじょうてきひく

一顆失效的電容標示著 2200 µF,ただし可能かのうただのうもうかそん 75 µF てきでんりょう長時間ちょうじかんてき使用しよう,50%てき衰退すいたい以被あずかてきただし不可能ふかのう衰退すいたいいたただあま 5%。降壓こうあつ交換こうかん調節ちょうせつ卻會如此ていまとでんりょう使とく穩定せいだいおり扣,而且調節ちょうせつてき電壓でんあつ波動はどう可能かのうかいだい連結れんけついたりICてき建議けんぎ最大さいだい波動はどう值。

さい普遍ふへんてき情況じょうきょうとう電壓でんあつ調節ちょうせつ壞掉しょうかいしたがえ電源でんげん供應きょうおう直接ちょくせつ傳導でんどういたり裝置そうちしるべ致從電源でんげん供應きょうおう輸出ゆしゅつてき12Vある5V電源でんげん直接ちょくせつ輸入ゆにゅういたりCPU北橋きたはし記憶きおくたい及其ぐみけん,而這些組けんはたしょう毀。當主とうしゅいた發現はつげん使用しようゆう瑕疵かしてきでん容器ようき就應該被拿出處理しょりちょくいた修理しゅうりかん畢,避免しんいちてき損害そんがい

參考さんこう資料しりょう

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  1. ^ D. M. Zogbi. Low-ESR Aluminum Electrolytic Failures Linked to Taiwanese Raw Material Problems (PDF). Passive Component Industry (Paumanok Publications). September 2002, 4 (5): 10, 12, 31 [2015-11-03]. (原始げんし内容ないよう (PDF)そん档于2016-03-03). 
  2. ^ The Capacitor Plague, Posted on 26 November 2010 by PC Tools. [2017-10-18]. (原始げんし内容ないようそん档于2017-10-09). 
  3. ^ D. M. Zogbi. Low-ESR Aluminium Electrolytic Failures Linked to Taiwanese Raw Material Problems (PDF). Passive Component Industry (Paumanok Publications). September 2002, 4 (5): 10, 12, 31 [2018-06-15]. (原始げんし内容ないよう (PDF)そん档于2016-03-03). 
  4. ^ Low-ESR Aluminium Electrolytic Failures Linked to Taiwanese Raw Material Problems (PDF), Molalla, (原始げんし内容ないよう (PDF)そん档于26 April 2012) 
  5. ^ Chiu, Yu-Tzu; Moore, Samuel K. Faults & Failures: Leaking capacitors muck up motherboards. IEEE Spectrum. February 2003, 40 (2): 16–17 [2014-08-22]. ISSN 0018-9235. doi:10.1109/MSPEC.2003.1176509. (原始げんし内容ないようそん于5 January 2018). 
  6. ^ Motherboard Capacitor Problem Blows Up. Silicon Chip. AUえーゆー. 2003-05-11 [2012-03-07]. (原始げんし内容ないようそん于14 June 2012). 
  7. ^ Hillman, Craig; Helmold, Norman, Identification of Missing or Insufficient Electrolyte Constituents in Failed Aluminium Electrolytic Capacitors (PDF), DFR solutions, 2004 [2 January 2009], (原始げんし内容ないようそん (PDF)于26 June 2011) 
  8. ^ Low-ESR Aluminum Electrolytic Failures Linked to Taiwanese Raw Material Problems. [16 March 2022]. (原始げんし内容ないようそん于22 June 2017). 
  9. ^ Badcaps.net - Badcaps Home. [2007-08-19]. (原始げんし内容ないようそん档于2021-05-08).  070405 badcaps.net
  10. ^ Apple iMac Repair Extension Program. [2007-08-19]. (原始げんし内容ないようそん于2007-03-15). 
  11. ^ Apple eMac Repair Extension Program. [2007-08-19]. (原始げんし内容ないようそん档于2013-09-26). 
  12. ^ Yu-Tzu Chiu; Moore, S.K. Leaking capacitors muck up motherboards. Spectrum, IEEE. February 2003, 40 (2): 16–17. 

外部がいぶ連結れんけつ

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