光學こうがく解析かいせき度ど[1]是ぜ用よう來らい描述光學こうがく成なり像ぞう系統けいとう解析かいせき物體ぶったい細ほそ節ぶし的てき能力のうりょく。
最さい為ため世人せじん所しょ接受せつじゅ的てき解析かいせき度ど準則じゅんそく是ぜ由ゆかり英國えいこく瑞みず利り爵士所ところ提出ていしゅつ的てき瑞みず利り判別はんべつ準則じゅんそく（Rayleigh criterion），當とう兩個りゃんこ等とう強度きょうど且不相しょう干ひ的てき光ひかり狹せま縫ぬい亮あきら紋もん互相靠もたれ近きん而快要よう重疊ちょうじょう時じ，兩者りょうしゃ的てき光ひかり強度きょうど疊たたみ加か之これ後ご，中心ちゅうしん處しょ亮あきら暗くら紋もん的てき光ひかり強度きょうど比ひ最さい亮あきら處しょ的てき光ひかり強度きょうど小しょう一いち些，減げん小成しょうせい為ため約やく 81% （ 8 πぱい 2 ≈ 81.14 % {\displaystyle {\frac {8}{\pi ^{2}}}\approx 81.14\%} ），如此，恰好かっこう可か以判斷はんだん出來でき是ぜ來き自じ於兩個りゃんこ不同ふどう的てき光ひかり狹せま縫ぬい。[1]
），如此，恰好可以判斷出來是來自於兩個不同的光狹縫。[1]
