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粒子 りゅうし の運動 うんどう (ブラウン運動 うんどう )の模 も 式 しき 図 ず 。
走行 そうこう 距離 きょり の分布 ぶんぷ を取 と り、平均 へいきん 値 ち を計算 けいさん する。これが平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい となる。
平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい (へいきんじゆうこうてい、英語 えいご : mean free path )または平均 へいきん 自由 じゆう 行路 こうろ [1] (へいきんじゆうこうろ)とは、物理 ぶつり 学 がく や化学 かがく のうち、気体 きたい 分子 ぶんし 運動 うんどう 論 ろん において、分子 ぶんし などの粒子 りゅうし が、散乱 さんらん 源 げん (同 おな じ粒子 りゅうし の場合 ばあい もあれば、異 こと なる粒子 りゅうし の場合 ばあい もある)による散乱 さんらん (衝突 しょうとつ )で妨害 ぼうがい されること無 な く進 すす むことのできる距離 きょり (これを自由 じゆう 行程 こうてい という)の平均 へいきん 値 ち のことを言 い う。粒子 りゅうし が平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい だけ運動 うんどう すると、他 た の粒子 りゅうし と平均 へいきん して1回 かい 衝突 しょうとつ する。金属 きんぞく や半導体 はんどうたい の伝導 でんどう 電子 でんし についても同様 どうよう に定義 ていぎ される[2] 。
平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい は、その系 けい の特性 とくせい や粒子 りゅうし により異 こと なってくる。そのため、一般 いっぱん 的 てき な場合 ばあい 、ランダムな速度 そくど を持 も った粒子 りゅうし が、散乱 さんらん 源 げん に衝突 しょうとつ するまでの距離 きょり として、次 つぎ の式 しき で表記 ひょうき される。
ℓ
=
(
n
σ しぐま
)
−
1
{\displaystyle \ell =(n\sigma )^{-1}}
ただし、
ℓ
{\displaystyle \ell }
は平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい (単位 たんい m )で、n は散乱 さんらん 源 げん の数 かず 密度 みつど (m-3 )、σ しぐま は散乱 さんらん 時 じ の有効 ゆうこう 断 だん 面積 めんせき (m2 )である。粒子 りゅうし の速度 そくど がマクスウェル分布 ぶんぷ に従 したが うと仮定 かてい される場合 ばあい 、平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい は次 つぎ 式 しき で表 あらわ せる。
ℓ
=
(
2
n
σ しぐま
)
−
1
{\displaystyle \ell =({\sqrt {2}}\,n\sigma )^{-1}}
いくつかの系 けい での例 れい [ 編集 へんしゅう ]
大気 たいき 中 ちゅう の気体 きたい の場合 ばあい [ 編集 へんしゅう ]
大気 たいき 中 なか では、大気 たいき を構成 こうせい する分子 ぶんし がお互 たが いに衝突 しょうとつ しながら散乱 さんらん している。平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい は、この衝突 しょうとつ から衝突 しょうとつ までの間 あいだ に分子 ぶんし が進 すす む距離 きょり の平均 へいきん となる。この大小 だいしょう は気体 きたい 分子 ぶんし 同士 どうし やその気体 きたい の入 はい っている容器 ようき を構成 こうせい する分子 ぶんし への衝突 しょうとつ 回数 かいすう の大小 だいしょう も表 あらわ しており、マクロ的 てき には、気圧 きあつ と言 い う形 かたち で観測 かんそく される。気体 きたい の真空 しんくう 度 ど (=気圧 きあつ )と、そのときの気体 きたい 分子 ぶんし の個数 こすう と、平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい の関係 かんけい を示 しめ したものが以下 いか の表 ひょう である[要 よう 出典 しゅってん ] 。
真空 しんくう 度 ど
気圧 きあつ / hPa
分子 ぶんし 数 かず / cm3
平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい
大気 たいき 圧 あつ
1013
> 2.7×1019
68 nm
低 てい 真空 しんくう
300–1
1019 –1016
0.1 μ みゅー m–100 μ みゅー m
中 ちゅう 真空 しんくう
1–10-3
1016 –1013
0.1 mm–100 mm
高 こう 真空 しんくう
10-3 –10-7
1013 –109
10 cm–1 km
超 ちょう 高 こう 真空 しんくう
10-7 –10-12
109 –104
1 km–105 km
極 ごく 超 ちょう 高 こう 真空 しんくう
< 10-12
< 104
> 105 km
材質 ざいしつ 中 ちゅう の電子 でんし の場合 ばあい [ 編集 へんしゅう ]
半導体 はんどうたい や金属 きんぞく 中 なか の電子 でんし は電界 でんかい に加速 かそく されながら、電圧 でんあつ の低 ひく い側 がわ から高 たか い側 がわ へ移動 いどう する。この時 とき 、材質 ざいしつ を構成 こうせい する原子 げんし が散乱 さんらん 源 げん となる。電子 でんし の質量 しつりょう は原子 げんし の質量 しつりょう より遥 はる かに小 ちい さいため、散乱 さんらん のたびにほとんどの速度 そくど と運動 うんどう 量 りょう を失 うしな い、再度 さいど 電界 でんかい で加速 かそく される。この平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい は、マクロ的 てき には、材質 ざいしつ の抵抗 ていこう 値 ね と言 い う形 かたち で観測 かんそく される。
散乱 さんらん の際 さい に、電子 でんし (もしくはホール)等 とう のキャリアの速度 そくど が十分 じゅうぶん な速度 そくど (運動 うんどう エネルギー)に達 たっ していた場合 ばあい 、電子 でんし は散乱 さんらん により運動 うんどう 量 りょう を失 うしな うだけでなく、散乱 さんらん 源 げん の原子 げんし を電離 でんり (イオン化 いおんか )させる。これは、高 こう 電界 でんかい をかけた場合 ばあい に発生 はっせい し、生 しょう じたキャリアが更 さら なる衝突 しょうとつ 電離 でんり を発生 はっせい させると、アヴァランシェ・ブレークダウン と呼 よ ばれる正 せい のフィードバック が働 はたら き、急激 きゅうげき な電流 でんりゅう の増加 ぞうか を生 しょう じさせる。
衝突 しょうとつ 電離 でんり の捕獲 ほかく 断 だん 面積 めんせき は、電子 でんし と原子核 げんしかく 間 あいだ のクーロン力 りょく で決定 けってい される距離 きょり (デバイ長 ちょう )で決定 けってい される。しかし、材質 ざいしつ 中 ちゅう に衝突 しょうとつ 電離 でんり で生 しょう じた電子 でんし が増 ふ えると、電子 でんし 自体 じたい が散乱 さんらん 源 げん の原子核 げんしかく を「見 み えにくく」してしまう。これを、スクリーニング効果 こうか もしくは単 たん にスクリーニングと言 い う。このスクリーニング効果 こうか により、捕獲 ほかく 断 だん 面積 めんせき が減少 げんしょう し、平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい も増加 ぞうか する。
数式 すうしき の導出 どうしゅつ [ 編集 へんしゅう ]
一般 いっぱん 的 てき な場合 ばあい [ 編集 へんしゅう ]
捕獲 ほかく 断 だん 面積 めんせき の考 かんが え方 かた
平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい を考 かんが える際 さい には、粒子 りゅうし がある領域 りょういき を移動 いどう する際 さい に、どの程度 ていど の粒子 りゅうし が散乱 さんらん の影響 えいきょう を受 う けるか、その比率 ひりつ が必要 ひつよう となる。これは、以下 いか に示 しめ す考 かんが え方 かた で求 もと めることができる。
一辺 いっぺん が
L
{\displaystyle L}
の正方形 せいほうけい を断面 だんめん に持 も つ、厚 あつ さ
d
x
{\displaystyle dx}
の直方体 ちょくほうたい を考 かんが える。この体積 たいせき は、
L
2
d
x
{\displaystyle L^{2}dx}
であり、この中 なか に含 ふく まれる散乱 さんらん 源 げん の個数 こすう は散乱 さんらん 源 げん の数 すう 密度 みつど n より、
n
L
2
d
x
{\displaystyle nL^{2}dx}
となる。これらの散乱 さんらん 源 げん はその中心 ちゅうしん から一定 いってい 半径 はんけい の距離 きょり 内 ない に入 はい った粒子 りゅうし (衝突 しょうとつ 径 みち 数 すう が一 いち 定値 ていち 以下 いか になる粒子 りゅうし )を散乱 さんらん させる。これは、散乱 さんらん 源 げん が一定 いってい の面積 めんせき σ しぐま を持 も っていると考 かんが えることができ、これを捕獲 ほかく 断 だん 面積 めんせき (cross section)と言 い う。この捕獲 ほかく 断 だん 面積 めんせき と散乱 さんらん 源 げん の個数 こすう から、この直方体 ちょくほうたい での総 そう 捕獲 ほかく 断 だん 面積 めんせき S capture は、次 つぎ の形 かたち で計算 けいさん される。
S
c
a
p
t
u
r
e
=
n
L
2
σ しぐま
d
x
{\displaystyle S_{\mathrm {capture} }=nL^{2}\sigma dx}
この直方体 ちょくほうたい の断 だん 面積 めんせき は
L
2
{\displaystyle L^{2}}
であるため、この直方体 ちょくほうたい で粒子 りゅうし が散乱 さんらん される確 かく 率 りつ P capture は、次 つぎ の式 しき で表 あらわ される。
P
c
a
p
t
u
r
e
=
S
c
a
p
t
u
r
e
S
a
l
l
=
n
L
2
σ しぐま
d
x
L
2
=
n
σ しぐま
d
x
{\displaystyle P_{\mathrm {capture} }={{S_{\mathrm {capture} }} \over {S_{\mathrm {all} }}}={{nL^{2}\sigma dx} \over {L^{2}}}=n\sigma dx}
この確 かく 率 りつ から、粒子 りゅうし の個数 こすう
I
{\displaystyle I}
の減少 げんしょう 量 りょう
d
I
{\displaystyle dI}
は、厚 あつ さ
d
x
{\displaystyle dx}
に対 たい して、次 つぎ の式 しき で表 あらわ される。
d
I
=
−
I
n
σ しぐま
d
x
{\displaystyle dI=-In\sigma dx}
この微分 びぶん 方程式 ほうていしき の解 かい と、最初 さいしょ の粒子 りゅうし の入射 にゅうしゃ 数 すう を
I
0
{\displaystyle I_{0}}
とすれば、
I
=
I
0
exp
(
−
n
σ しぐま
x
)
{\displaystyle I=I_{0}\exp(-n\sigma x)}
となる。これが粒子 りゅうし の走行 そうこう 距離 きょり とその比率 ひりつ であるため、この平均 へいきん が平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい となる。したがって、平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい
ℓ
{\displaystyle \ell }
は、次 つぎ の式 しき で表 あらわ される。
ℓ
=
(
n
σ しぐま
)
−
1
{\displaystyle \ell =(n\sigma )^{-1}}
マクロな量 りょう との関係 かんけい [ 編集 へんしゅう ]
気体 きたい 分子 ぶんし の熱 ねつ 運動 うんどう は温度 おんど T 、圧力 あつりょく P および粘性 ねんせい μ みゅー によって変 か わり、平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい l のそれらへの依存 いぞん 性 せい は次 つぎ 式 しき のように表 あらわ される[3] 。
l
=
l
0
(
T
T
0
)
1
2
(
P
P
0
)
−
1
μ みゅー
μ みゅー
0
=
l
0
(
T
T
0
)
2
(
P
P
0
)
−
1
T
0
+
S
T
+
S
{\displaystyle l=l_{0}\left({\frac {T}{T_{0}}}\right)^{\frac {1}{2}}\left({\frac {P}{P_{0}}}\right)^{-1}{\frac {\mu }{\mu _{0}}}=l_{0}\left({\frac {T}{T_{0}}}\right)^{2}\left({\frac {P}{P_{0}}}\right)^{-1}{\frac {T_{0}+S}{T+S}}}
ただし、添 そ え字 じ 0付 つ きの変数 へんすう は基準 きじゅん 状態 じょうたい での値 ね 、S はサザーランド定数 ていすう と呼 よ ばれる、物質 ぶっしつ に依存 いぞん する定数 ていすう である。
^ 今井 いまい 功 いさお 『流体 りゅうたい 力学 りきがく (前編 ぜんぺん )』裳 も 華 はな 房 ぼう 、1997年 ねん 、9頁 ぺーじ 。ISBN 4-7853-2314-0 。
^ 小 しょう 項目 こうもく 事典 じてん ,世界 せかい 大 だい 百科 ひゃっか 事典 じてん 内 ない 言及 げんきゅう , 日本 にっぽん 大 だい 百科全書 ひゃっかぜんしょ (ニッポニカ),デジタル大辞泉 だいじせん ,化学 かがく 辞典 じてん 第 だい 2版 はん ,ブリタニカ国際 こくさい 大 だい 百科 ひゃっか 事典 じてん . “平均 へいきん 自由 じゆう 行程 こうてい とは ”. コトバンク . 2021年 ねん 5月 がつ 16日 にち 閲覧 えつらん 。
^ 高橋 たかはし 幹 みき 二 に 著 ちょ 、日本 にっぽん エアロゾル学会 がっかい 編 へん 『エアロゾル学 がく の基礎 きそ 』森北 もりきた 出版 しゅっぱん 、2003年 ねん 、16頁 ぺーじ 。ISBN 4-627-67251-9 。