マルコフ再生 さいせい 過程 かてい (英 えい : Markov renewal process; MRP )は、確 かく 率 りつ 過程 かてい の一 ひと つであり、ジャンプ型 がた マルコフ過程 かてい (Markov jump process)の考 かんが え方 かた を一般 いっぱん 化 か したものである。マルコフ連鎖 れんさ やポアソン点 てん 過程 かてい (英語 えいご 版 ばん ) のような一部 いちぶ の確 かく 率 りつ 過程 かてい 、および再生 さいせい 過程 かてい (英語 えいご 版 ばん ) はマルコフ再生 さいせい 過程 かてい の特別 とくべつ な場合 ばあい として導出 どうしゅつ することができる。
マルコフ再生 さいせい 過程 かてい の実例 じつれい
状態 じょうたい 空間 くうかん を
S
{\displaystyle \mathrm {S} }
、(連続 れんぞく 的 てき な)時刻 じこく の集合 しゅうごう を
T
{\displaystyle \mathrm {T} }
とする。いま、確 かく 率 りつ 変数 へんすう の系列 けいれつ
{
(
X
n
,
T
n
)
∈
S
×
T
}
n
≥
0
{\displaystyle \{(X_{n},T_{n})\in \mathrm {S} \times \mathrm {T} \}_{n\geq 0}}
を考 かんが える。ここで
T
n
{\displaystyle T_{n}}
はジャンプ時刻 じこく (jump time) 、
X
n
{\displaystyle X_{n}}
は対応 たいおう するマルコフ連鎖 れんさ の状態 じょうたい である (図 ず を参照 さんしょう )。また、到着 とうちゃく 間 あいだ 時刻 じこく (inter-arrival time) を
τ たう
n
=
T
n
−
T
n
−
1
{\displaystyle \tau _{n}=T_{n}-T_{n-1}}
と表記 ひょうき する。次 つぎ の条件 じょうけん を満 み たすとき、系列 けいれつ
{
(
X
n
,
T
n
)
}
n
≥
0
{\displaystyle \{(X_{n},T_{n})\}_{n\geq 0}}
はマルコフ再生 さいせい 過程 かてい と呼 よ ばれる。
Pr
(
τ たう
n
+
1
≤
t
,
X
n
+
1
=
j
∣
(
X
0
,
T
0
)
,
(
X
1
,
T
1
)
,
…
,
(
X
n
=
i
,
T
n
)
)
=
Pr
(
τ たう
n
+
1
≤
t
,
X
n
+
1
=
j
∣
X
n
=
i
)
∀
n
≥
1
,
t
≥
0
,
i
,
j
∈
S
{\displaystyle {\begin{aligned}&\Pr(\tau _{n+1}\leq t,X_{n+1}=j\mid (X_{0},T_{0}),(X_{1},T_{1}),\ldots ,(X_{n}=i,T_{n}))\\&\quad =\Pr(\tau _{n+1}\leq t,X_{n+1}=j\mid X_{n}=i)\quad \forall n\geq 1,t\geq 0,i,j\in \mathrm {S} \end{aligned}}}
t
∈
[
T
n
,
T
n
+
1
)
{\displaystyle t\in [T_{n},T_{n+1})}
に対 たい し
Y
t
:=
X
n
{\displaystyle Y_{t}:=X_{n}}
を満 み たす確 かく 率 りつ 過程 かてい
Y
t
{\displaystyle Y_{t}}
を定義 ていぎ する。これは準 じゅん マルコフ過程 かてい (semi-Markov process) と呼 よ ばれる確 かく 率 りつ 過程 かてい となる。MRP と準 じゅん マルコフ過程 かてい の違 ちが いは、前者 ぜんしゃ は状態 じょうたい と時刻 じこく の組 くみ で定義 ていぎ されるのに対 たい し、後者 こうしゃ は時間 じかん 発展 はってん する実際 じっさい の時 とき 系列 けいれつ の確 かく 率 りつ 過程 かてい であり、実現 じつげん 値 ち が任意 にんい の時刻 じこく における状態 じょうたい の値 ね として定義 ていぎ される点 てん である。
この確 かく 率 りつ 過程 かてい は全体 ぜんたい を見 み ればマルコフ性 せい を持 も たない(すなわち無 む 記憶 きおく 性 せい を持 も たない)が、ジャンプする瞬間 しゅんかん に限 かぎ りマルコフ性 せい を持 も つ。これが準 じゅん マルコフという名前 なまえ の理論 りろん 的 てき 根拠 こんきょ である。隠 かく れ準 じゅん マルコフモデル(英語 えいご 版 ばん ) も参照 さんしょう されたい。
(上 うえ に定義 ていぎ した)準 じゅん マルコフ過程 かてい のうち、保持 ほじ 時間 じかん (holding time) が指数 しすう 分布 ぶんぷ で表 あらわ されるものを連続 れんぞく 時間 じかん マルコフ連鎖 れんさ 、または連続 れんぞく 時間 じかん マルコフ過程 かてい (continuous-time Markov chain/process; CTMC) と呼 よ ぶ。い換 いか えると、到着 とうちゃく 間 あいだ 時間 じかん が指数 しすう 分布 ぶんぷ に従 したが い、かつある状態 じょうたい における待 ま ち時間 じかん (waiting time) と次 つぎ に遷移 せんい する状態 じょうたい が独立 どくりつ であれば準 じゅん マルコフ過程 かてい は CTMC となる。
Pr
(
τ たう
n
+
1
≤
t
,
X
n
+
1
=
j
∣
(
X
0
,
T
0
)
,
…
,
(
X
n
,
T
n
)
)
=
Pr
(
X
n
+
1
=
j
∣
X
n
=
i
)
(
1
−
e
−
λ らむだ
i
t
)
,
∀
n
≥
1
,
t
≥
0
,
i
,
j
∈
S
{\displaystyle {\begin{aligned}&\Pr(\tau _{n+1}\leq t,X_{n+1}=j\mid (X_{0},T_{0}),\ldots ,(X_{n},T_{n}))\\&\quad =\Pr(X_{n+1}=j\mid X_{n}=i)(1-e^{-\lambda _{i}t}),\quad \forall n\geq 1,t\geq 0,i,j\in \mathrm {S} \end{aligned}}}
系列 けいれつ
{
X
n
}
n
≥
0
{\displaystyle \{X_{n}\}_{n\geq 0}}
は離散 りさん 時間 じかん マルコフ連鎖 れんさ となる。すなわち、時間 じかん 変数 へんすう を無視 むし すれば MRP は離散 りさん 時間 じかん マルコフ連鎖 れんさ として扱 あつか うことができる。
Pr
(
X
n
+
1
=
j
∣
X
0
,
…
,
X
n
=
i
)
=
Pr
(
X
n
+
1
=
j
∣
X
n
=
i
)
,
∀
n
≥
1
,
i
,
j
∈
S
{\displaystyle \Pr(X_{n+1}=j\mid X_{0},\ldots ,X_{n}=i)=\Pr(X_{n+1}=j\mid X_{n}=i),\quad \forall n\geq 1,i,j\in \mathrm {S} }
系列 けいれつ
{
τ たう
n
}
n
≥
0
{\displaystyle \{\tau _{n}\}_{n\geq 0}}
が独立 どくりつ かつ同一 どういつ の分布 ぶんぷ に従 したが い、かつそれらの分布 ぶんぷ が状態 じょうたい
X
n
{\displaystyle X_{n}}
に依存 いぞん しないのであれば、対応 たいおう する確 かく 率 りつ 過程 かてい は再生 さいせい 過程 かてい (英語 えいご 版 ばん ) となる。したがって、状態 じょうたい を無視 むし したときに得 え られる独立 どくりつ 同 どう 分布 ぶんぷ の時間 じかん 系列 けいれつ は再生 さいせい 過程 かてい として扱 あつか うことができる。
Pr
(
τ たう
n
+
1
≤
t
∣
T
0
,
…
,
T
n
)
=
Pr
(
τ たう
n
+
1
≤
t
)
,
∀
n
≥
1
,
t
≥
0
{\displaystyle \Pr(\tau _{n+1}\leq t\mid T_{0},\ldots ,T_{n})=\Pr(\tau _{n+1}\leq t),\quad \forall n\geq 1,t\geq 0}
Medhi, J. (1982). Stochastic processes . New York: Wiley & Sons. ISBN 978-0-470-27000-4
Ross, Sheldon M. (1999). Stochastic processes. (2nd ed.). New York [u.a.]: Routledge.. ISBN 978-0-471-12062-9
Barbu, Vlad Stefan; Limnios, Nikolaos (2008). Semi-Markov chains and hidden semi-Markov models toward applications : their use in reliability and DNA analysis . New York: Springer. ISBN 978-0-387-73171-1